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goodhew peter j.; humphreys john; beanland richard - electron microscopy and analysis, third edition

Electron Microscopy and Analysis, Third Edition

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Pubblicazione: 11/2000
Edizione: Edizione nuova, 3° edizione





Trama

Electron Microscopy and Analysis deals with several sophisticated techniques for magnifying images of very small objects by large amounts - especially in a physical science context. It has been ten years since the last edition of Electron Microscopy and Analysis was published and there have been rapid changes in this field since then. The authors have vastly updated their very successful second edition, which is already established as an essential laboratory manual worldwide, and they have incorporated questions and answers in each chapter for ease of learning. Equally as relevant for material scientists and bioscientists, this third edition is an essential textbook.










Altre Informazioni

ISBN:

9780748409686

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 9.25 x 6.25 in Ø 0.85 lb
Formato: Brossura
Illustration Notes:147 color images
Pagine Arabe: 264


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