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dahoo pr - applications and metrology at nanometer–scale 1 – smart materials, electromagnetic waves and uncertainties

Applications and Metrology at Nanometer–Scale 1 – Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties




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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

ISTE Ltd.

Pubblicazione: 02/2021











Altre Informazioni

ISBN:

9781786306401

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 243 x 18.34 x 167 mm Ø 508 gr
Formato: Copertina rigida
Pagine Arabe: 256


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