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sengupta anirban (curatore); dasgupta sudeb (curatore); singh virendra (curatore); sharma rohit (curatore); kumar vishvakarma santosh (curatore) - vlsi design and test

VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

Springer

Pubblicazione: 08/2019
Edizione: 1st ed. 2019





Trama

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.

The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.





Sommario

Analog and Mixed Signal Design.- Computing Architecture and Security.- Hardware Design and Optimization.- Low Power VLSI and Memory Design. -Device Modelling.- Hardware Implementation.










Altre Informazioni

ISBN:

9789813297661

Condizione: Nuovo
Collana: Communications in Computer and Information Science
Dimensioni: 235 x 155 mm Ø 1193 gr
Formato: Brossura
Illustration Notes:XVI, 775 p. 545 illus., 336 illus. in color.
Pagine Arabe: 775
Pagine Romane: xvi


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