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rajaram s. (curatore); balamurugan n.b. (curatore); gracia nirmala rani d. (curatore); singh virendra (curatore) - vlsi design and test

VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers

Name: VLSI Design and Test
Price: 103,53 € EUR
Availability: InStock
Author: Rajaram S. (Curatore); Balamurugan N.B. (Curatore); Gracia Nirmala Rani D. (Curatore); Singh Virendra (Curatore)
ISBN: 9789811359491

rajaram s. (curatore); balamurugan n.b. (curatore); gracia nirmala rani d. (curatore); singh virendra (curatore)

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Dettagli

Genere:Libro

Lingua: Inglese

Editore:

Springer

Pubblicazione: 01/2019

Edizione: 1st ed. 2019

Trama

This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.
The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.

Sommario

Digital design.- Analog and mixed signal design.- Hardware security.- Micro bio-fluidics.- VLSI testing.- Analog circuits and devices.- Network-on-chip.- Memory.- Quantum computing and NoC.- Sensors and interfaces.

Altre Informazioni

ISBN:

9789811359491

Condizione: Nuovo

Collana: Communications in Computer and Information Science

Dimensioni: 235 x 155 mm Ø 1116 gr

Formato: Brossura

Illustration Notes:XVIII, 722 p. 711 illus., 324 illus. in color.

Pagine Arabe: 722

Pagine Romane: xviii

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