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Test Driven Development for Embedded C




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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

O'Reilly

Pubblicazione: 05/2011











Altre Informazioni

ISBN:

9781934356623

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 235 x 23 x 189 mm Ø 698 gr
Formato: Brossura
Pagine Arabe: 310


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