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thompson c. v. (curatore); lloyd j. r. (curatore) - materials reliability in microelectronics ii: volume 265
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Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 Volume 265

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Pubblicazione: 06/2014





Note Editore

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.










Altre Informazioni

ISBN:

9781107409682

Condizione: Nuovo
Collana: MRS Proceedings
Dimensioni: 229 x 18 x 152 mm Ø 460 gr
Formato: Brossura
Pagine Arabe: 344


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