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murr lawrence e (curatore) - electron and ion microscopy and microanalysis
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis Principles and Applications, Second Edition,




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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

CRC Press

Pubblicazione: 07/1991
Edizione: Edizione nuova, 2° edizione





Trama

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr




Sommario

CHAPTER 1: FUNDAMENTAL PROPERTIES OF ELECTRONS AND IONS. CHAPTER 2: ELECTRON EMISSION AND EMISSION AND IONIZATION MICROSCOPY. CHAPTER. 3: ELECTRON AND ION OPTICS AND OPTICAL SYSTEMS. CHAPTER 4: ELECTRON AND ION PROBE MICROANALYSIS. CHAPTER 5: ELECTRON AND ION MICROSCOPY OF SURFACES. CHAPTER 6: ELECTRON DIFFRACTION. CHAPTER 7: TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY. CHAPTER 8: HIGH-VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY.




Autore

Lawrence E. Murr










Altre Informazioni

ISBN:

9780824785567

Condizione: Nuovo
Collana: Optical Science and Engineering
Dimensioni: 10 x 7 in Ø 3.52 lb
Formato: Copertina rigida
Pagine Arabe: 856


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