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akasaki i. (curatore); ashok s. (curatore); chevallier j. (curatore); johnson n. m. (curatore); sopori b. l. (curatore) - defect and impurity-engineered semiconductors and devices: volume 378
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Defect and Impurity-Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Pubblicazione: 10/1995





Note Editore

Defect engineering has come of age. That theme is well documented by both the academic and industrial research communities in this book from MRS. Going beyond defect control, the book explores the engineering of desired properties in semiconductor materials and devices through the deliberate introduction and manipulation of defects and impurities. Papers are grouped around ten distinct topics covering materials, processing and devices. Topics include: grown-in defects in bulk crystals; grown-in defects in thin films; gettering and related phenomena; hydrogen interaction with semiconductors; defect issues in widegap semiconductors; defect characterization; ion implantation and process-induced defects; defects in devices; interfaces, quantum wells and superlattices; and defect properties, reaction, activation and passivation.










Altre Informazioni

ISBN:

9781558992818

Condizione: Nuovo
Collana: MRS Proceedings
Dimensioni: 237 x 62 x 160 mm Ø 1700 gr
Formato: Copertina rigida
Pagine Arabe: 1082


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