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reis ricardo (curatore); cao yu (curatore); wirth gilson (curatore) - circuit design for reliability
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Circuit Design for Reliability

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

Springer

Pubblicazione: 11/2014





Trama

This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units.  The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.




Sommario

Introduction.- Recent Trends in Bias Temperature Instability.- Charge trapping phenomena in MOSFETS: From Noise to Bias Temperature Instability.- Atomistic Simulations on Reliability.- On-chip characterization of statistical device degradation.- Circuit Resilience Roadmap.- Layout Aware Electromigration Analysis of Power/Ground Networks.- Power-Gating for Leakage Control and Beyond.- Soft Error Rate and Fault Tolerance Techniques for FPGAs.










Altre Informazioni

ISBN:

9781461440772

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 235 x 155 mm
Formato: Copertina rigida
Illustration Notes:VI, 272 p. 190 illus., 132 illus. in color.
Pagine Arabe: 272
Pagine Romane: vi


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