-
DISPONIBILITÀ IMMEDIATA
{{/disponibilitaBox}}
-
{{speseGratisLibroBox}}
{{/noEbook}}
{{^noEbook}}
-
Libro
-
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
hnatek eugene r.
108,98 €
103,53 €
{{{disponibilita}}}
ALTRE INFORMAZIONI
- Condizione: Nuovo
- ISBN: 9780442006433
- Dimensioni: 234 x 156 mm
- Formato: Copertina rigida
- Illustration Notes: X, 180 p.
- Pagine Arabe: 180
- Pagine Romane: x