Questo prodotto usufruisce delle SPEDIZIONI GRATIS
selezionando l'opzione Corriere Veloce in fase di ordine.
Pagabile anche con Carta della cultura giovani e del merito, 18App Bonus Cultura e Carta del Docente
Higher Resolution Scanning Probe Methods for Magnetic Imaging.- The Synchrotron Based VUV Resonant Photoemission for Characterisation of Nanomaterials.- SPM for Characterization of PbSe Nanocrystals.-Scanning Probe Microscopy for Nanolithography.- Kelvin Probe Force Microscopy.-Synchrotron Radiation X-ray Photoelectron Spectroscopy.- Scanning Electrochemical Potential Microscopy (SECPM) and Electrochemical STM (EC-STM).- Band Bending at Metal-Semiconductor and Metal-Ferroelectric Interfaces Investigated by Photoelectron Spectroscopy.- Magnetic Force Microscopy.- High Resolution STM Imaging.-Numerical Simulations on Nanotips for FIM and FEM .-ARPES on Organic Semiconductor Single Crystals Crystalline Films.- FIM-Characterized Tips for SPM.- Scanning Conductive Torsion Mode Microscopy.- Scanning Probe Acceleration Microscopy (SPAM).- Combining Micromanipulation, Kerr Magnetometry and Magnetic Force Microscopy for Characterization of Magnetic Nanostructures.- Field Ion Microscopy (FIM).- Non-Contact Atomic Force Microscopy for Characterization of Nanostructures and Beyond.
Il sito utilizza cookie ed altri strumenti di tracciamento che raccolgono informazioni dal dispositivo dell’utente. Oltre ai cookie tecnici ed analitici aggregati, strettamente necessari per il funzionamento di questo sito web, previo consenso dell’utente possono essere installati cookie di profilazione e marketing e cookie dei social media. Cliccando su “Accetto tutti i cookie” saranno attivate tutte le categorie di cookie. Per accettare solo deterninate categorie di cookie, cliccare invece su “Impostazioni cookie”. Chiudendo il banner o continuando a navigare saranno installati solo cookie tecnici. Per maggiori dettagli, consultare la Cookie Policy.