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benninghoven a. (curatore); evans c.a. jr. (curatore); powell r.a. (curatore); shimizu r. (curatore); storms h.a. (curatore) - secondary ion mass spectrometry sims ii

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Editore:

Springer

Pubblicazione: 12/2011
Edizione: Softcover reprint of the original 1st ed. 1979





Sommario

I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.










Altre Informazioni

ISBN:

9783642618734

Condizione: Nuovo
Collana: Springer Series in Chemical Physics
Dimensioni: 229 x 152 mm
Formato: Brossura
Illustration Notes:XIV, 300 p.
Pagine Arabe: 300
Pagine Romane: xiv


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