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bernstein jb - reliability prediction for microelectronics

Reliability Prediction for Microelectronics




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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Pubblicazione: 03/2024











Altre Informazioni

ISBN:

9781394210930

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 235 x 28.03 x 200 mm Ø 722 gr
Formato: Copertina rigida
Pagine Arabe: 400


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