Machine Vision Inspection Systems - Malarvel Muthukumaran (Curatore); Nayak Soumya Ranjan (Curatore); Pattnaik Prasant Kumar (Curatore); Panda Surya Narayan (Curatore) | Libro John Wiley & Sons 03/2021 - HOEPLI.it


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Machine Vision Inspection Systems Machine Learning–Based Approaches

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Dettagli

Genere:Libro
Lingua: Inglese
Pubblicazione: 03/2021
Edizione: Volume 2








Altre Informazioni

ISBN:

9781119786092

Condizione: Nuovo
Dimensioni: 238 x 23.49 x 166 mm Ø 604 gr
Formato: Copertina rigida
Pagine Arabe: 352






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